1.斥力模式原子力顯微鏡（AFM）微懸臂是原子力顯微鏡（AFM）關鍵組成部分之一，通常由一個一般100～500μm長和大約500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微懸臂頂端有一個尖銳針尖，用來檢測樣品－針尖間的相互作用力。對于一般的形貌成像，探針尖連續(xù)（接觸模式）或間斷（輕敲模式）與樣品接觸，并在樣品表面上作光柵模式掃描。通過計算機控制針尖與樣品位置的相對移動。當有電壓作用在壓電掃描器電極時，它會產(chǎn)生微量移動。根據(jù)壓電掃描器的精確移動，就可以進行形貌成像和力測量。原子力顯微鏡（AFM）設計可以有所不同，掃描器即可以使微懸臂下的樣品掃描，也可以使樣品上的微懸臂掃描。原子力顯微鏡（AFM）壓電掃描器通常能在（x,y,z）三個方向上移動，由于掃描設計尺寸和所選用壓電陶瓷的不同，掃描器比較大掃描范圍x、y軸方向可以在500nm～125μm之間變化，垂直z軸一般為幾微米。好的掃描器能夠在小于1尺度上產(chǎn)生穩(wěn)定移動。通過在樣品表面上掃描原子力顯微鏡（AFM）微懸臂。茂鑫實業(yè)（上海）有限公司作為一家代理德國徠卡清潔度檢測儀DM4M、孔隙率檢測儀、3D掃描儀DVM6、影像測量儀等檢測設備的公司，茂鑫實業(yè)將在展覽會上展示其新的產(chǎn)品和技術，以滿足客戶的需求。徠卡金相材料分析顯微鏡DM4M_價格_上海茂鑫。合肥徠卡顯微鏡銷售

徠卡金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術很好地結合在一起而開發(fā)研制成的高科技產(chǎn)品，可以在計算機上很方便地觀察金相圖像，從而對金相圖譜進行分析，評級等以及對圖片進行輸出、打印。金相顯微鏡是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。這些不透明物體無法在普通的透射光顯微鏡中觀察，因此金相和普通顯微鏡的主要差別在于前者以反射光，而后者以透射光照明。在金相顯微鏡中照明光束從物鏡方向射到被觀察物體表面，被物面反射后再返回物鏡成像。這種反射照明方式也用于集成電路硅片的檢測工作。徠卡金相顯微鏡是一種應用較多的光學儀器，可以及早發(fā)現(xiàn)材料加工生產(chǎn)中的問題，改善熱處理操作，防止產(chǎn)生廢棄物，提高產(chǎn)品質量。該設備已成為鋼鐵冶煉、材料加工等行業(yè)重要的測量分析儀器，也廣泛應用在高校的實驗研究教學中。數(shù)字化是提升測量能力，滿足現(xiàn)產(chǎn)要求的有效手段，可用于觀察生物切片、生物細胞、細菌以及組織培養(yǎng)、流質沉淀等，與此同時，也可以觀察其他透明或者半透明物體以及粉末、細小顆粒等物體。杭州徠卡顯微鏡配置上海茂鑫實業(yè)的金相顯微鏡,值得選擇。

清潔度檢測儀是利用表面張力及液滴平衡原理測量材料表面的清潔度。當一滴液體靠近固體表面時，表面張力將使液體形成一束曲線（切線）與該表面相切，曲線越劇烈，表面越臟。徠卡清潔度檢測儀通過測量切線的角度計算表面張力，進而得出材料表面清潔度。LeicaM80實現(xiàn)零件清洗與顆粒污染物過濾回收同步進行，可及時將零件表面的顆粒污染物收集到濾膜表面，清洗零件結束后即可得到濾膜樣本，減少顆粒污染物在清洗劑中滯留時間。LeicaM80清潔度檢測儀適合檢測粒徑25微米以上的顆粒，是汽車零部件客戶一個比較經(jīng)濟型的選擇方案。該儀器支持標準、ISO16232,VDA19,ISO4406,ISO4407,NAS1638等，同時支持自定義標準。可以辨別金屬非金屬，纖維，自動計算統(tǒng)計所設區(qū)間內(nèi)的顆粒數(shù)量。系統(tǒng)構成：1.技術參數(shù)：1)平行光路,以人為本,避免V型光路造成的職業(yè)眼病。2)變倍比8：1；主機放大倍數(shù)；3)LED照明系統(tǒng)；多種附件滿足各種需求；4)自動、手動操作；人體工程學設計；5)超大工作距離。6)LeicaCleanlinessExpert全自動顆粒分析軟件；7)外設(計算機)；2、高精度掃描型電動載物臺：1)有效行程：XY行75*50mm；2)重復精度