隨著科學(xué)技術(shù)和工業(yè)的不斷發(fā)展，測(cè)量技術(shù)在自動(dòng)化生產(chǎn)、質(zhì)量控制、反求工程及生物醫(yī)學(xué)工程等領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越重要。然而，傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量技術(shù)存在著許多局限性，如測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)、需進(jìn)行補(bǔ)償、不能測(cè)量彈性或脆性材料等。這些限制使得傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)無(wú)法滿足現(xiàn)代工業(yè)的需求。近年來(lái)，光學(xué)非接觸式測(cè)量技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生，其基于光學(xué)原理，具有高效率、無(wú)破壞性、工作距離大等特點(diǎn)，可以對(duì)物體進(jìn)行靜態(tài)或動(dòng)態(tài)的測(cè)量。這種技術(shù)在產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)和工藝控制中的應(yīng)用，不只可以節(jié)約生產(chǎn)成本，縮短產(chǎn)品的研制周期，還可以提高產(chǎn)品質(zhì)量，因此備受人們的青睞。研索儀器科技激光無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)基于Shearography / ESPI原理由SE傳感器和isi-Studio軟件構(gòu)成。上海非接觸無(wú)損檢測(cè)儀

無(wú)損檢測(cè)就是指在檢查機(jī)械材料內(nèi)部不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能,不傷害被檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部組織的前提下，利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異?；蛉毕荽嬖谝鸬臒?、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化，以物理或化學(xué)方法為手段，借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材。對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、狀態(tài)及缺陷的類型、數(shù)量、形狀、性質(zhì)、位置、尺寸、分布及其變化進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)**的工業(yè)發(fā)展水平，無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到公認(rèn)。上海激光剪切散斑無(wú)損裝置多少錢檢測(cè)數(shù)據(jù)可導(dǎo)出，無(wú)縫對(duì)接MATLAB分析工具。

無(wú)損檢測(cè)就是NonDestructiveTesting，縮寫是NDT（或NDE，non-destructiveexamination），也叫無(wú)損探傷，是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。常見的如超聲波檢測(cè)焊縫中的裂紋。中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)是中國(guó)無(wú)損檢測(cè)學(xué)術(shù)組織，TC56是其標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)。即：全國(guó)無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)。損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)**的工業(yè)發(fā)展水平，其重要性已得到公認(rèn)。而中國(guó)在1978年11月成立了全國(guó)性的無(wú)損檢測(cè)學(xué)術(shù)組織——中國(guó)機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)分會(huì)。

無(wú)損檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用之航空航天：目前，中國(guó)的航空航天技術(shù)已經(jīng)取得了巨大的進(jìn)步，嫦娥五號(hào)探測(cè)器的每一個(gè)部件都有非常嚴(yán)格的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，這是中國(guó)一次無(wú)人地外物體采樣。重要的部分是電路板。嫦娥五號(hào)探測(cè)器的中間控制單元電路板與計(jì)算機(jī)的CPU一樣重要。我們稱控制單元電路板為葡萄酒探測(cè)器的“大腦”由于衛(wèi)星產(chǎn)品的特殊性，所使用的組件不是行業(yè)中較小的組件。因此，檢測(cè)焊接質(zhì)量的主要困難不是部件的尺寸，而是部件的數(shù)量。在傳統(tǒng)的電路板上，組件的數(shù)量約為兩三百個(gè)，通常為500個(gè)。然而，探測(cè)器的重要電路板上焊接了2000多個(gè)組件，其中大部分是引腳芯片。檢測(cè)焊接質(zhì)量的更大困難是如此多引腳的間距和數(shù)量。因此，檢測(cè)檢測(cè)器的電路板的難度按簾的順序增加。研索儀器科技激光無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)可用于各種應(yīng)用，例如全場(chǎng)非接觸的無(wú)損檢測(cè)、振動(dòng)、變形和應(yīng)變測(cè)量。

無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)案例4：生物可吸收支架體內(nèi)力學(xué)行為模擬??技術(shù)?：微流體環(huán)境同步輻射CT+光學(xué)應(yīng)變映射?挑戰(zhàn)?：鎂合金支架在血管中降解時(shí)的動(dòng)態(tài)支撐力衰減機(jī)制不明確。?解決方案?：在仿生流道內(nèi)植入支架，通過(guò)同步輻射CT（分辨率1μm/幀）觀測(cè)降解孔隙演變。表面噴涂熒光納米標(biāo)記點(diǎn)，利用顯微成像追蹤局部應(yīng)變。?成果?：揭示?降解前沿應(yīng)變集中?現(xiàn)象（局部應(yīng)變達(dá)基體3倍），優(yōu)化開槽設(shè)計(jì)后支撐力穩(wěn)定性提升70%（動(dòng)物實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)）。研索儀器無(wú)損檢測(cè)，為設(shè)備健康運(yùn)行保駕護(hù)航。上海激光散斑無(wú)損檢測(cè)儀哪里有

適用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)件檢測(cè)，可準(zhǔn)確找到缺陷位置，提升工藝優(yōu)化效率。上海非接觸無(wú)損檢測(cè)儀

在無(wú)損檢測(cè)的基礎(chǔ)理論研究和儀器設(shè)備開發(fā)方面，特別是在紅外、聲發(fā)射等高科技檢測(cè)設(shè)備方面，中國(guó)與世界先進(jìn)**仍有很大差距。常見的無(wú)損檢測(cè)方法包括渦流檢測(cè)（ECT）、射線檢測(cè)（RT）、超聲波檢測(cè)（UT）、磁粉檢測(cè)（MT）和液體滲透檢測(cè)（PT）。除此之外，其他無(wú)損檢測(cè)方法有：聲發(fā)射測(cè)試（AE）、熱成像/紅外（TIR）、泄漏測(cè)試（LT）、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)（ACFMT）、磁通泄漏測(cè)試（MFL）、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試和檢測(cè)方法（RFT）、超聲衍射時(shí)差（TOFD）等。上海非接觸無(wú)損檢測(cè)儀